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电子元器件高低温冲击测试箱

  • 电子元器件高低温冲击测试箱对各种金属、非金属及复合材料进行环境性能测试和分析研究,广泛用于航天航空、石油化工、机械制造、车辆制造、
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电子元器件高低温冲击测试箱

对各种金属、非金属及复合材料进行环境性能测试和分析研究,广泛用于航天航空、石油化工、机械制造、车辆制造、电线电缆、纺织纤维、塑料橡胶、陶瓷建材、食品、医药包装、金属材料、建筑工程等行业,以及高等院校、科研院所、技术监督、质检站所等部门.



技术参数:

型号 GT-TC-80 GT-TC-150 GT-TC-225 GT-TC-500 GT-TC-800 GT-TC-1000
内箱尺寸(WxHxD)mm 400x500x400 500x600x500 500x750x600 700x800x900 1000x1000x800 1000x1000x1000
温度范围 G:-20℃ ~ +100℃(150℃);Z:-40℃ ~ +100℃(150℃);D:-70℃ ~ +100℃(150℃)
结构 三箱式(低温区、高温区、测试区) / 两箱式(低温区、高温区、吊篮)
气门装置 强制的空气装置气门 / 吊篮
内箱材质 镜面不锈钢 SUS 304
外箱材质 雾面拉丝不锈钢板 / 冷轧钢板烤漆
测试架 不锈钢架
冷冻系统 二段式
冷却方式 半密闭式双段压缩机(水冷式)/全封闭式双段压缩机(风冷式)
高温区温度 +60 ℃~ +200 ℃
低温区温度 -10 ℃~ -80 ℃ /-10 ℃~ -70 ℃
高温冲击温度范围 +60 ℃~ +150℃
低温冲击温度范围 -10 ℃~ -55 ℃ /-10 ℃~ -65 ℃
温度均匀度 ± 2 ℃
温度波动度 ± 1.0 ℃
高温冲击时间 Rt ~ +150 ℃ /5min
低温冲击时间 Rt ~ -55 ℃ /5min       Rt ~ -65 ℃ /5min
预热时间 45min
预冷时间 100min
注:另可根据客户的要求设计客户满意的电子元器件高低温冲击测试箱