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镀层分析仪

  • 镀层分析仪行业应用能量色散X荧光光谱仪,简称XRF,是一种物理的元素分析方法,具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优
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镀层分析仪
 
 行业应用
能量色散X荧光光谱仪,简称XRF,是一种物理的元素分析方法,具有快速、无损、多种元素同时分析、分析成本低等特殊技术优势,在电子、电器、珠宝、玩具、服装、皮革、食品、建材、冶金、地矿、塑料、石油、化工、医药等行业广泛应用。
GT-XRF-W7型能量色散X荧光光谱仪(俗称RoHS检测仪),主要应用:
1、 欧盟RoHS指令限定有害元素检测: 铅Pb、汞Hg、镉Cd、六价铬Cr、多溴联苯、多溴联苯醚;
2、 无卤指令,卤素检测:氯Cl、溴Br;
3、 玩具、服装、皮革等行业限定的8大重金属:镉Cb、铅Pb、汞Hg、铬Cr、锑Sb、砷As、钡Ba、硒Se;
4、 合金成分分析;
5、 镀层厚度检测分析;



镀层分析仪GT-XRF-W7 产品特点
1、 电脑一体机,工业级计算机,双触摸屏(无需另配电脑),减少干扰和数据传输故障,仪器运行更稳定;
此型号仪器具有变型设计,开盖方式可以为上翻盖,显示器可以扩展,电脑还可以选择为外置型。
2、 采用美国原装FW7版本的探测器,仪器自动校准,确保仪器测试数据的准确性;
3、 自带WIFI系统,方便接入网络打印机和远程数据调试;
4、 500万像素高清摄像定位系统,准确定位测试点;
5、 样品测试结束时,有音乐提醒,提示更换样品,提高工作效率;
6、 可自定义多种报告输出形式;
7、 超大数据库,确保测试结果的准确性;
8、 不同客户可设置不同的限定标准,告别繁琐的更换限定值的烦恼;
9、 集成数据统计功能,方便品质部门筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况;
10、 分析数据一键备份\还原功能,避免因误操作或其它原因造成的损失,保障数据及系统文件安全;
11、 支持大样品测试功能,并有流程指引设计。


镀层分析仪产品介绍
1、产品基本情况:
电脑和RoHS检测仪器集成一体的,显示屏可以触摸,同样键盘鼠标也可以操作;
样品测试盖是向左滑动开盖,仪器后部有电源接口,USB接口;
另外还有提示音的音响位和散热孔。
仪器操作分2+3共5步骤,,2是开机和关机,3是预热,测量和结果处理

镀层分析仪GT-XRF-W7 技术参数

GT-XRF-W7 技术参数
仪器测试范围: 从硫S-铀U之间的元素(包含RoHS和重金属元素 )
RoHS限定有害元素Pb/Hg/Cd/Cr/Br   + 卤素Cl和Br
合金:铜材,铁合金,镍合金,锡合金,钛合金,贵金属
镀层:Ag/Sn/Au/Ni—Cu,Cr/Zn/Ni/Ag/—Fe
样品种类: 固体、液体、粉末;
zui低检出限: RoHS:Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm 、Pb≤5ppm、Cl≤60ppm
成分分析:0.01%--99.99%
测试时间: 60s-200s(软件自动调整)
工作环境温度: 温度 :15-30℃  ;湿度:≤75% (不结露)
输入电源: AC 220V±15%,50Hz
高压保护措施 过压自保护,自恢复
仪器尺寸: 650mm*450mm*350mm
测试样品腔尺寸: 280mm*280mm*200mm
10  辐射防护标准: 远高于国标GB18871-2002 GBZ115-2002标准
 

镀层分析仪GT-XRF-W7产品配置

产品配置
X射线光管 型号:XF50Mo
窗口材料:金属铍
使用寿命:大于20000小时
探测器 类型:Si-PIN
生产厂家:美国Amptek
电制冷Si-Pin 探测器
分辨率145ev±5
1mil铍窗厚度
高压电源 型号:X3513
生产厂家:咸阳威思曼
0-50kev,0-2mA   zui大50W
低压电源 110-250V输入,24/12输出。
 
主控制系统 24V,2A,48路输出。
集成工业计算机
(电脑一体机)
4G内存,1.6G双核CPU
操作系统:Windows7   (无需外接电脑)
摄像定位系统 500万真像素高清定位系统;
准直滤光系统 光斑大小:φ1mm、3mm、4mm(软件自动选择)
滤光系统:9种3组(软件自动选择)
温控系统 环境温度,探测器温度,X光管温度和高压温度4路控制
10  音频输出 USB声卡音响
11  输出接口 4个USB(可以直接连接打印机),1个VGA,
 
GT-XRF-W7标准出货清单

出货清单
1 荧光光谱仪GT-XRF-W7主机(无需另配电脑) 1台
2 无线鼠标键盘套装(罗技) 1套
3 电源线 1根
4 配件盒 1个
5 样品杯 2个
6 专用测试薄膜 1包(100张)
7 能量校准块 1块
8 塑料标准品 1块
9 合格证\说明书\测试报告 各1份
10 辐射合格报告 1份
11 防尘罩 1个